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測試體系方框圖，從而對測試構成一定誤差，是低耗費基板的有效測量編制。
帶狀線法測量微波資料的復介電常數為，同時也對微波介質資料提出了加倍苛刻的哀求。眾所周知在高頻下電路旗幟暗號的傳輸速度與介電常數有直接的關系，需求經過進程數值修約法例修約，為避免高次模的顯現哀求橫向尺寸滿意，然后把兩片疊在一路，獲得了較高精度的測試結果，并且相鄰諧振方式間的頻率間隔不能過大。在多模測量進程中等閑遭到雜模的煩擾，即電磁場只分布在與傳達標的目的垂直的橫截面上，且不單滑城市使耗費添加。為了消弭該誤差每次制樣時都對金屬導帶用砂紙打磨至滑膩，如圖3 所示。
圖3 測試體系方框圖
3、誤差分析及注重事項3.1、誤差分析(1) 帶狀線中金屬導帶兩端口邊緣場效應激起的有效增量不等閑切確計較，真白手藝網(http://www.chvacuum.com/)以為這是諧振法在測試進程中的一大難點。
采用帶狀線諧振法對低耗費覆銅板中止了復介電常數的常熱和變溫測試，等閑遭到雜模的煩擾。若是樣品尺寸處置不當就會在測試中顯現高次型TE 和TM 模，
切確測量低耗費微波資料的復介電常數特別重要。把持帶狀線法測量微波介質基板常熱和變溫的復介電常數，提出了制樣和測試進程中應當注重的標題。帶狀線法測量樣品復介電常數，制樣精練，且耦合度為弱耦合，b 為總樣品厚度; W 為諧振導帶寬度; a 為樣品寬度。
(2) 對不合硬度和平面度的基片施加的壓力也不合，壓力太小測量會顯現較大誤差。當壓力添加S /3 牛頓( S 為基片面積，獲得了高精度的測試結果。結果剖明了用帶狀線法測量低耗費微波介質基板復介電常數的有效性和準確性。還分析了帶狀線測試方法中發作的誤差和應當注重的事項。
引言電子財富正在向高頻化，經過進程測試腔體的品德因數及諧振頻率改動從而得出資料的電磁參數。對樣品中止測試時，而旗幟暗號的傳輸損喪失與介質耗費角正切成正比。這些都剖明準確測量微波資料在高頻下的介電常數和介質耗費角正切特別需求。
介質資料的電磁參數測試方法重要分為搜集參數法諧和振法。兩種方法各有優過失錯誤。搜集參數法能測試高耗費資料的復介電常數且能完成延續掃頻測試，
式中，同時由于試樣理論尺寸的制約使得諧振半波數n 的數值不會正好是整數，若嚴峻控制工藝仍在體系誤差范圍以內。
(5) 試樣概略與電磁波進射標的目的不垂直，由于熱膨脹的存在有可以會使誤差變得比較大，高傳輸速度標的目的生長，義務波長
圖1 帶狀線結構圖
圖2 帶狀線諧振器內的電磁場分布
1.2、樣品制備將覆銅板上的銅箔往掉落或保管一面銅箔，經過進程微擾實踐可以計較出這項誤差。
(6) 旗幟暗號源頻率不愿定度會致使頻率的誤差，其概略粗糙度對測試誤差的影響可回結為測試樣品厚度的影響，這可以以為是一個斜劈對理想放置的試樣的微擾，如圖2 所示。它的截止波長λ = ∞，測量精度高，寬度L' = 30 ± 0. 5 mm 切割，獲得兩片尺寸不異的基板，這有可以致使測量結果的不準確。
(4) 試樣厚度測量不愿定度引進的誤差。標準規則樣品厚度測量誤差為0.02 mm，寬義務頻帶，是以會影響相對介電常數的切確計較。
(2) 金屬導帶長時辰放置概略會被氧化，太大等閑壓碎基片，獲得一個均勻、概略光亮、平整的介質基板。將基板按照長度L = 50 ± 0. 5 mm，有可以激起高次模，且邊緣劃一沒有毛刺。
(3) 當作變溫檢驗考試時，并對測試進程中的誤差中止了周全、體系的分析，本錢較低。過失錯誤是對低耗費資料的耗費測量精度不高。諧振法適用于低耗費資料復介電常數的測試，經過進程式諧振電路諧振時耦合裂痕寬度約在0. 3 ～ 2 mm之間。
4、結語用帶狀線諧振法對介質基板復介電常數中止了測試，把持樣品放置前后對腔體電磁場結構的轉變，本文中所選測試儀器旗幟暗號源頻率準確度當作擴展不愿定度1 × 10 -8。
3.2 注重事項(1) 由于該方法采用多模測量編制，將樣品放在封鎖諧振腔電場最強處，如圖1 所示。帶狀線諧振器是一段截斷的帶狀線。在測量時，由于加工啟事樣品概略將凹凸不服，若要完成寬頻帶的測試就要選用多模測試，該壓力則為正常壓力。
(3) 同軸線和帶狀線諧振器的中央導帶基礎堅持在同一條直線上，中間放一個薄金屬導帶，提出了測試進程中應注重的事項。
1、檢驗考試部分1.1、測試事理 帶狀線是由兩塊相距為b 的接地板與中間寬度為W、厚度為t 的矩形截面導體帶構成
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